La nuova generazione di Beckman Kurt LS 13 320 XRAnalisi delle particelle di diffrazione laserLa versione aggiornata della tecnologia brevettata PIDS (brevetti: 4953978; 5104221) e 132 rilevatori ottimizzati garantiscono una risoluzione strumentale più alta, risultati più precisi e una migliore riproducibilità. Non solo è possibile misurare particelle con una gamma più ampia di dimensioni, ma è anche possibile rilevare più velocemente differenze estremamente sottili tra le dimensioni delle particelle. Tecnologia PIDS per la misurazione delle dimensioni delle particelle a 10nm; Nuovo tipo di modulo di campionamento secco e umido, "plug-and-use", per soddisfare i diversi requisiti di analisi, flessibilità e comodità; Il software intuitivo e il design touch screen semplificano notevolmente il funzionamento dello strumento e consentono di ottenere i dati necessari con pochi clic. LS 13 320 XR ti offrirà una nuova esperienza di misurazione!
BeckmankurtAnalizzatore di dimensione delle particelle di diffrazione laserCaratteristiche principali della LS 13 320 XR:
Superiore alla norma tecnica ISO 13 320
Conforme agli standard 21 CFR Part 11 della FDA
- Maggiore numero di rilevatori, fino a 132 rilevatori di posizione fisica indipendenti che corrispondono a 136 canali di dati reali
Differenziare le differenze di intensità della luce diffusa tra i diversi gradi di grandezza delle particelle per garantire che non mancano le minime informazioni e misure veloci e accurate della grandezza delle particelle reali.
- Array di rilevatore di linea logaritmica di tipo "X" progettato brevettato, in grado di registrare con precisione il segnale luminoso diffuso, indipendentemente dal singolo picco, multi-picco, accurato
Analisi della distribuzione delle particelle.
- Funzione di analisi di calcolo completamente automatica, rilevamento automatico di picchi multipli, senza dover indovinare in anticipo il tipo di picco, senza dover selezionare il modello di analisi, fornendo solo obiettivi
una relazione.
- La tecnologia PIDS aggiornata offre un'analisi innovativa delle dimensioni delle nanoparticelle ad alta risoluzione per una misurazione del picco minimo di 10nm
quantità.
La tecnologia PIDS non solo consente di rilevare direttamente particelle fino a 10 nm, ma anche la distribuzione multipico a nanoscala.
- La funzione di analisi nanometrica è combinata con quella di analisi micrometrica per una potente e vera misurazione di 10nm che lo rende un punteggio alto indipendente
Risoluzione analizzatore di nanoparticelle utilizzato.
- Fonte di luce laser solida di nuova generazione, senza preriscaldamento, più di 70.000 ore di vita utile di avviamento.
- acquisizione e trasmissione del segnale in parallelo per garantire che il segnale mantenga un elevato rapporto segnale-rumore, senza differenze temporali e ad alta portata.
-Le tecniche di analisi della luce polarizzata e della lunghezza d'onda multipla forniscono un'alta garanzia per un'analisi accurata della distribuzione delle dimensioni delle particelle su un'ampia gamma dinamica.
-I sistemi automatici multipli di dispersione del campione, "plug and play", possono essere commutati in secondi, efficienti e convenienti.
-Il touch screen di nuova generazione è progettato con il software di analisi ADAPT, che è più intuitivo da usare senza la necessità di esperienza operativa. La misurazione può essere completata in tre semplici passaggi e la ruota di navigazione intuitiva e accattivante richiede solo un passo per ottenere la visualizzazione e l'esportazione dei dati.
Il software ADAPT regola automaticamente i risultati di misura a verde o rosso standard e li gestisce come qualificati/non qualificati, ottenendo un controllo di qualità diretto.
-Il software è dotato di un potente database di parametri ottici e di un innovativo sistema di modelli ottici in tempo reale "Zero Time", che richiede solo un secondo
Un nuovo modello ottico può essere stabilito per fornire report di analisi oggettivi e accurati.
-Lo strumento è dotato di una funzione diagnostica di autocontrollo, che visualizza lo stato della misura in qualsiasi momento durante il processo di prova.
Coltro beckmanAnalizzatore di dimensioni delle particelle a diffrazione laserParametri tecnici LS 13 320 XR:
-Gamma di dimensioni delle particelle: da 10 nanometri a 3500 micrometri (picco)
Sorgente laser di percorso ottico principale: laser a stato solido collegato dalla connessione in fibra ottica
-Rivelatore: 132 rivelatori di angolo fisici indipendenti
- Canali di analisi reali: 136
-Multi misura di lunghezza d'onda: 475nm, 613nm, 785nm e 900nm
-Modello teorico ottico: teoria completa Mie; Teoria Fraunhofer
Errore di precisione: inferiore a +/-0,5%
Errore di riproducibilità: inferiore a +/-0,5%
*Questo prodotto è utilizzato solo per la ricerca scientifica e non per la diagnosi clinica.